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结构分析
双模式三维表面轮廓仪
日期:2010-07-15 | | 【
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生产厂家:美国AEP公司
购置日期:2010年
原 值:12.5万美元
主要指标:10μm×10μm-500μm×500μm;亚纳米级垂直分辨率:最小0.1nm
用 途:微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取
样品要求: 固体
联系电话:0931-4968165
附件: